測量數據輸入裝置
產品展示 > 測量數據輸入裝置
測量數據輸入裝置
便捷的數據收集工具和質量控制軟件
特征：
便捷的數據收集工具和質量控制軟件
規格：
SPC連接電纜 (包括 USB Input Tool)
SPC 連接電纜規格 (尺寸)
量具連接器尺寸
精密量儀?量具的小知識
■ 品質控制 (QC)
生產經濟性產品或提供優質服務，以滿足客戶要求。
■ 制程控制
通過制程減少產品的分散性，并保持較低的分散性。促進改進工藝、標準化以及技術經驗的積累。
■ 統計過程控制 (SPC)
通過統計方法處理的過程控制。
■ 母體
由具有某些共同特質的元素或個體所組成的群體。
■ 批次
在同等條件下生產的產品批次。
■ 樣品
從母體中挑選出的產品 (或項目) 中的一件，供研究調查其特性。
■ 樣本規模
樣本規模
■ 偏差
個別測量值與多次測量值的平均值之差。
■ 偏移
有關平均值目標特性的偏移，標準偏差通常代表平均值上下的偏移。
■ 直方圖
直方圖，將最大和最小測量值的范圍劃分為多個區并以柱狀圖的形式顯示每個區的數值(出現頻率)。這使得更容易理解粗略平均值或大致的偏離程度。鐘形對稱分布稱為正態分布，因其比較容易計算的特性，常用在理論的例子上。然而，應該注意觀察，因為在許多實際過程中并不符合正態分布，如果被誤認為的話，將會導致錯誤。
■ 制程能力
當這個過程足夠標準化，排除任何可能導致故障的原因，具體性能就能表現出來，這個過程就處于統計控制狀態。當質量特性結果來自顯示正態分布的過程，平均±3 或6 代表這個制程能力。(Σ) 表示標準偏差。
■ 制程能力指數 (PCI 或CP)
一個在目標特征的公差范圍內如何操作這個過程的方法。它應該始終明顯大于一。該指數值計算除以一個目標特性的制程能力 (6 ) 的公差。該數值除以平均 (X) 和3 標準值之間的差，用來代表在單側公差下的指數。這個制程能力假設某一特點遵循正態分布。
■ 控制圖
備注： 如果一個特點遵循如下正態分布，99.74% 的數據是在平均值±3 的范圍內。
兩側公差
單方公差... 如果只有公差上限
單方公差... 如果只有公差下限
制程能力指數(CP) (兩側公差) 的具體例子
當6 西格瑪極限法幾乎與公差限制一致時，制程能力得以獲得。
制程能力是一個可以普遍接受的最小值，因為它是距離公差限制不到 1 個西格瑪。
制程能力是充分的，因為它是距離公差限制不到2 個西格瑪。
注意Cp 僅僅代表公差限制和過程分散性之間的關系，沒有考慮制程標準值的位置。
注意：從一個目標制程到理想值之間的差異獲取制程標準值的制程能力指數，通常稱為Cpk，這是上限(USL 減去平均值) 除以3 (制程能力的一半) 或較低的公差上限(平均值減去LSL) 除以3 ，以較小者為準。
■ 如何讀取控制圖
如下所示的控制圖中的連續點位的典型趨勢，是不希望出現的。這些趨勢意味著一個“特殊原因”影響過程和需要操作員采取措施去糾正。這些判定規則只提供一個引導。當實際確定規則時，要考慮到過程中的具體變化。假設上限和下限控制線遠離3 個中心線，將控制圖劃分成六個區，每1 個間隔，適用下列規定。
這些規則適用于X 控制圖和X 控制圖。請注意，這些“措施趨勢規則”是在假設正態分布的情況下而制定的。可以制定適應任何其他分配的規則。
注意：“精密量儀· 量具的小知識”(A-20 和A-21 頁) 的部分是由三豐公司基于日本標準協會公布的JIS 質量控制手冊按照自己的理解而編寫的。
■ 控制圖
通過分離偶然原因引起的或故障引起的過程變化，以此來控制過程。
控制圖由中心線(CL) 和極限線以上及以下(UCL 和LCL)。如果所有的點都在極限線的上限和下限范圍內，當表示過程結果的圖表的特征值沒有明顯的趨勢，可以說這個時候過程處于統計狀態。對于控制過程的質與量，控制圖是一個非常有用的工具。控制上限(UCL) 中心線(CL) 控制下限(LCL)
■ 偶然原因
這種偏差原因不是很重要。即使被識別到它, 從技術上或經濟上都無法消除偶然原因。
■ X-R 控制圖
用于過程控制的控制圖，在整個過程中提供絕大部分的信息。X-R 控制圖的組成是由使用每個控制小組的平均值來監控異常偏差的X 控制圖，和用于監控異常變化范圍的R 控制圖組成的。通常情況下，兩個圖表一起使用。
下一個：
測量數據網絡系統
|
|
版權所有 ? 青島潤祿機電設備有限公司 未經許可 嚴禁復制