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SuperView W1 光學3D表面輪廓儀

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SuperView W1 光學3D表面輪廓儀

  SuperView W1光學3D表面輪廓儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。它是以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析,并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數,從而實現器件表面形貌3D測量的光學檢測儀器。 SuperView W1光學3D表面輪廓儀可廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業及航空航天、國防軍工、科研院所等領域中。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等,提供依據ISO/ASME/EUR/GBT四大國內外標準共計300余種2D、3D參數作為評價標準。

 產品型號:SuperView W1

產品名稱:光學3D表面輪廓儀

  • 影像系統:1024×1024

  • 光學ZOOM:0.5×,(0.75×,1×可選)

  • 干涉物鏡:10×,(2.5×,5×,20×,50×,100×可選)

  • XY平臺:尺寸320×200mm,行程140×110mm,電動

  • Z軸行程:100mm,電動

  • Z向掃描范圍:10mm

  • Z向分辨率:0.1nm

  • 可測樣品反射率:0.05%-100%

  • 水平調整:±5°手動

  • 粗糙度RMS重復性:0.005nm

  • 臺階高測量:準確度0.3%,重復性0.08% 1σ

  • 主要特點:非接觸式無損檢測,一鍵分析、快速高效