Waveline W20
Waveline W20
Waveline W20 技術亮點
– 緊湊輕便
– 通過彩色觸摸屏實現交互式操作
– 測頭自動定位在工件表面上，所以調整的耗時少
– 用于測量國際標準所有常見粗糙度、波紋度和輪廓參數的自由探測系統
– 通過內置的粗糙度標準件對測量儀進行即時檢測
– 易更換的基準面測頭
– 用于即時打印測量結果的一體化打印機
– 共有7 個測量程序，另加1 個用于儀器檢測的測量程序
測量能力 | 粗糙度及輪廓參數 | 波紋度參數 | 簡介參數 | 特色 |
W20 | Ra, Rz, Rmax, Rt, Rq, RSm, Rc, Rp, Rv, Rsk, Rku, Rdc, | Wt, Wz, Wa, Wp, | – | – | ||||
Rdq, RzISO, Rmr, Rmr(c), C(Rmr), Pt, Pz, Pa, Pc, Pp, Pv, | Wv, WSm, Wq, | |||||||
PSm, Pq, PSk, Pku, Pdq, Pdc, Pmr, Pmr(c), C(Pmr), Rk, | WSk,Wku, Wdq, | |||||||
Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Rpk*, Rvk*, R, AR, Rx, CR, | Wc, W, Wx, Aw | |||||||
CF, CL, Nr, Rp, Rpm, Rz-JIS, RPc, R3z, 密封參數 Rmr ( | ||||||||
系數*參數） |
上一個：
Waveline Toposcan
下一個：
Waveline W10
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