Waveline Toposcan 技術亮點
Toposcan 是檢測缸孔精細加工面（如珩磨面）的理想檢驗系統(tǒng)，測量速度快，測量結果精確可靠。 由于測量儀的探頭結構緊湊，所以既可用于光學表面檢驗，也可用于接觸式表面粗糙度測量，柔性極高。
–重量輕，可移動使用
–符合人體工程學要求，操作簡便
–缸孔不同直徑時調(diào)整方便
–具有高達 210 倍放大倍率的高光學分辨率，適用于極精細結構
–自動確定珩磨角度