Waveline Toposcan
Waveline Toposcan
Waveline Toposcan 技術(shù)亮點
Toposcan 是檢測缸孔精細加工面（如珩磨面）的理想檢驗系統(tǒng)，測量速度快，測量結(jié)果精確可靠。 由于測量儀的探頭結(jié)構(gòu)緊湊，所以既可用于光學(xué)表面檢驗，也可用于接觸式表面粗糙度測量，柔性極高。
–重量輕，可移動使用
–符合人體工程學(xué)要求，操作簡便
–缸孔不同直徑時調(diào)整方便
–具有高達 210 倍放大倍率的高光學(xué)分辨率，適用于極精細結(jié)構(gòu)
–自動確定珩磨角度
Toposcan 是檢測缸孔精細加工面（如珩磨面）的理想檢驗系統(tǒng)，測量速度快，測量結(jié)果精確可靠。 由于測量儀的探頭結(jié)構(gòu)緊湊，所以既可用于光學(xué)表面檢驗，也可用于接觸式表面粗糙度測量，柔性極高。
–重量輕，可移動使用
–符合人體工程學(xué)要求，操作簡便
–缸孔不同直徑時調(diào)整方便
–具有高達 210 倍放大倍率的高光學(xué)分辨率，適用于極精細結(jié)構(gòu)
–自動確定珩磨角度
Waveline Toposcan 技術(shù)亮點
Toposcan 是檢測缸孔精細加工面（如珩磨面）的理想檢驗系統(tǒng)，測量速度快，測量結(jié)果精確可靠。 由于測量儀的探頭結(jié)構(gòu)緊湊，所以既可用于光學(xué)表面檢驗，也可用于接觸式表面粗糙度測量，柔性極高。
– 重量輕，可移動使用
– 符合人體工程學(xué)要求，操作簡便
– 缸孔不同直徑時調(diào)整方便
– 具有高達 210 倍放大倍率的高光學(xué)分辨率，適用于極精細結(jié)構(gòu)
– 自動確定珩磨角度
上一個：
Waveline W800/W900
下一個：
Waveline W20
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